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纂稿 GIA TAIWAN 分校 教育部門經理 曹盛欽
在GIA 新版的鑽石分級系統中,在標準圓形明亮式中亦包含了切磨工藝好壞的修飾,修飾下包含了磨光與對稱,此兩者在鑽石整體切磨等級上亦有某些程度上的影響,修飾中的磨光及對稱在早期GIA證書終究已存在了,自1950年代至2005年的GIA證書皆有紀錄此兩個項目,此兩者在新版GIA 鑽石證書上並沒有太大的改變
此篇文章是針對所採用的評估方式一一的描述與解說,在GIA 鑽石分級系統中'磨光'指的是,鑽石在切磨過程中表面拋光品質的好壞,或是在切磨過程中或之後於表面上所形成的表面缺隙,此點所常指的是因日後佩戴所形成的表面磨損,磨光特徵是位於鑽石表面上,若無十倍放大觀察是幾乎無法看到的,磨光評語的等級有Excellent(極優) Very Good(優良)Good(良好) Fair(尚可) Poor(不良)。
'對稱' 所指的是鑽石上刻面的精確性,及是否有呈現對稱的排列及刻面是否均勻的分布,對稱的等級與磨光相同,評語的等級有Excellent(極優) Very Good(優良) Good(良好) Fair(尚可) Poor(不良)。
在GIA鑽石切磨分級系統中對顏色的等級有D~Z 23個等級，對淨度的等級有Fl~I3 11個等級，而修飾對最終整體切磨等級影響如下:
要符合具有極優 (Excellent) 等級的切磨等級，磨光及對稱必須至少兩者皆為優良(Very Good)至極優 (Excellent) 。
要符合具有優良 (Very Good) 等級的切磨等級，磨光及對稱必須至少兩者皆為良好(Good)或以上者。
要符合具有良好(Good) 等級的切磨等級，磨光及對稱必須至少兩者皆為Fair(尚可)至少。
要符合具有不良(Poor) 等級的切磨等級，磨光及對稱必須兩者其中有一者為Poor(不良)，即可稱之。
磨光
有數個缺失項目是用來評估磨光等級，而例子與其缺失定義於(表一)
鑽石鑑定師考量這些磨光缺失的數目及明顯度來評定磨光等級，而GIA的五個磨光等級詳述如下:
極優(Excellent):在十倍放大鏡下，鑽石正面朝上時極困難可見的極細微磨光缺失或是無磨光缺失者。
優良(Very Good):在十倍放大鏡下，鑽石正面朝上時困難可見的細微磨光缺失。
良好(Good):在十倍放大鏡下，鑽石正面朝上時具可注意到的磨光缺失，此鑽石的表面光澤可受磨光特徵影響，而且可為肉眼所見。
尚可(Fair):明顯而嚴重的磨光特徵，在十倍放大鏡下正面可見，當以肉眼觀察時可見鑽石表面光澤已受磨光特徵所影響。
不良(Poor):突顯而嚴重的磨光特徵，在十倍放大鏡下正面可見，當以肉眼觀察時可見鑽石表面光澤顯著地已受磨光特徵所影響。
就如同所有鑽石分級一樣，在評估磨光時為達穩定性，應採用標準的方法及固定的背景環境，鑑定師所採用的為十倍放大(可採用手持放大鏡或是寶石學顯微鏡)以暗場光源來評估磨光，其步驟如下:
一、首先檢視寶石正面，已硬面夾法來觀察，取得磨光的第一印象。
二、然後分區檢查，每次檢查一個區塊，找尋座落於冠部及底部上所有刻面所有可能的磨光缺失。
三、最後以手持放大鏡觀察鑽石正面，以硬面夾法夾取，至少看四個不同方向，因為有些磨光缺失在某些方向可能看起來較不明顯，其明顯程度會隨著方向的不同而不同。
四、紀錄可看到的磨光缺失，並考量這些磨光缺失再各個方向及正面可看到的明顯程度，最後以手持十倍放大鏡觀察鑽石正面所看到的明顯程度為主要的定級關鍵。
對稱
就如同磨光一樣，對稱的缺失如表二、三所示。對稱可分為兩個細項
一、與比例相關聯的
二、與刻面相關聯的
因為已切磨鑽石為三度空間結構，所以有一個對稱缺失的存在亦會影響到另一個對稱缺失，而GIA所評定的五個對稱等級描述如下:
極優(Excellent):在十倍放大鏡下，鑽石正面朝上時極困難可見的極細微對稱缺失或是無對稱缺失者。
優良(Very Good):在十倍放大鏡下，鑽石正面朝上時困難可見的細微對稱缺失。
良好(Good):在十倍放大鏡下，鑽石正面朝上時具可注意到的對稱缺失，此鑽石的表面外觀可受對稱特徵影響，而且可為肉眼所見。
尚可(Fair):明顯而嚴重的對稱特徵，在十倍放大鏡下正面可見，當以肉眼觀察時可見鑽石表面已受對稱特徵所影響。
不良(Poor):突顯而嚴重的對稱特徵，在十倍放大鏡下正面可見，當以肉眼觀察時可見鑽石表面顯著地已受對稱特徵所影響。
下列是檢測對稱時所採取的步驟，所使用的工具與磨光相同。，
一、首先檢視寶石正面，已硬面夾法來觀察，取得對稱的第一印象。
二、然後轉至側面找尋所有可能存在的表面對稱缺失，在此方向最易找到的對稱缺失有:尖底銜接不良、刻面形狀不良、波浪狀腰圍、腰圍厚度差異、桌面及腰圍不平行、冠角差異及底部角度差異。
三、然後以硬面夾法觀察鑽石正面，以手持放大鏡至少觀察四個方向，因為有些對稱缺失在某些方向可能看起來較不明顯，其明顯程度會隨著方向的不同而不同。
四、紀錄可看到的對稱缺失，並考量這些對稱缺失再各個方向及正面可看到的明顯程度，最後以手持十倍放大鏡觀察鑽石正面所看到的明顯程度為主要的定級關鍵。
結論
在GIA國際鑽石鑑定系統中的新式切磨分級系統始於於2006年元月一日，其所應用的鑽石證書種類有GIA鑽石分級證書及鑽石檔案(DIAMOND DOSSIER)，目前僅應用於圓形明亮式鑽石上，與舊版證書最大的差異是在證書上加了切磨等級，而且對切磨各部位有更詳盡的數據，
在GIA 的網站上(www.diamondcut.gia.edu)您可以找到更多有關新式切磨的相關文章可供業者參考，而本篇僅針對對稱與磨光部份摘錄作一說明。
◎ 下列圖表請參閱公會-金銀珠寶會訊(95)年度版(131)期P48.49.50頁有刊載 ◎
========================== 表一 ============================
磨損痕Abrasion（Abr）：刻面稜線上有一系列的小缺口，使邊緣感覺白霧狀。
蜥蜴皮Lizard Skin（LS）：呈現透明凹陷結構的波浪狀崎嶇表面，因幾近平行於劈裂面磨光所形成。
小缺口Nick（Nk）：10倍放大下刻面稜線上所見不明顯的小凹痕，通常發生在腰圍邊緣或尖底。
白點Pit（Pit）：狀似微小白點的小開口。
磨光線Polish Lines（PL）：磨光過程遺留的細微平行溝槽與稜紋，呈白色Wht或透明狀TP，痕跡可重可輕。由觸及表面的特徵如洞痕所帶出的重度磨光線，稱做拖曳線drag lines。
粗糙腰圍Rough Girdle（RG）：不規則或顆粒狀的腰圍表面。
刮痕Scratch（S）：鑽石表面無明顯深度，細小白霧的線。
燒灼痕Burn Mark或燒傷刻面Burned Facet（Brn）：磨光過程產生高熱或少數由火槍等其他熱源造成刻面上的白霧區域，燒灼痕有時亦稱作磨輪痕Polish Mark（PM）。
=============================表二 ===========================
腰圍輪廓不圓（OR）：腰圍輪廓看起來非正圓，亦可能有扁平區。
桌面偏離中心（T/oc）：桌面不在冠部正中央，透過桌面觀察底部，如尖底的一邊見到較多的底部，可能是桌面或尖底（或兩者）偏離中心的指標。如冠部一側的風箏面比另一側的風箏面更長，則指向桌面偏離中央。
尖底偏離中心（C/oc）：尖底不在底部的中央，如尖底的一邊見到較多的底部，可能是桌面或尖底（或兩者）偏離中心的指標。如底部刻面所形成的十字交叉稜線感覺彎曲或彎折，則是尖底偏離中心的指標。
桌面/尖底不對齊（T/C）：桌面與尖底朝相反方向擺置。
波浪狀腰圍（WG）：腰圍平面呈波浪狀而非平坦。
桌面與腰圍不平行（T/G）：桌面不平行腰圍平面，亦稱傾斜桌面。
腰圍厚度偏差（GTV）：明亮式鑽石腰圍厚度的偏差，可能發生在冠部與底部刻面的對應處。
冠角偏差（CV）：圓形明亮式鑽石8個冠角測量數值的差異，通常與桌面偏離中心有關。
底角偏差（PV）：圓形明亮式鑽石8個底角測量數值的差異，通常與尖底偏離中心有關。
===============================表三 =========================
缺少刻面（MF）：該位置上應有的刻面不存在
額外刻面（EF）：不考量鑽石的對稱性，非該切磨樣式必要的刻面，最常見於腰圍附近。除非因它造成鑽石為IF淨度等級，此時需製圖以利指認，否則視為對稱項目。
桌面非正八邊形（T/oct）：桌面的八個邊不等長，且與對邊不平行，係由星形刻面或風箏面形狀不良所引起。
刻面形狀不良（Fac）；刻面的形狀不工整，或與同樣的其它刻面大小及形狀不同。明亮式鑽石之形狀不良的刻面通常加以詳細述明，譬如風箏刻面形狀不良(MB)、星形刻面形狀不良(MS)或底部主刻面形狀不良(MM)。
尖端不尖（Ptg）；因刻面出現開口，或整個刻面未置於適切的位置上，因而無法匯集於一精準的點。明亮式鑽石的尖端不尖，通常加以詳細述明，譬如底部主刻面開口(OM)、風箏面開口(OB)、短底部主刻面(SM)或短風箏面(SB)。
冠部與底部刻面不對齊（Aln）：冠部與底部刻面彼此未對正，亦即風箏面的底端不在底部主刻面頂端的正上方，且腰上刻面的分隔線未在腰下刻面分隔線的正上方，業內有時亦稱之為〝扭曲twist〞。
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